SRM 3600 X射线散射校准标准（美国NIST）

品牌：美国NIST标准品

货号：SRM 3600

英文名称：Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering

中文名称：X射线散射jue对校准标准

产品规格：coupon

SRM 3600 X射线散射校准标准（美国NIST）

本标准参考物质（SRM）用于小角度X射线散射（SAXS）仪器的散射强度校准。SAXS测量表征了异质材料系统的微观结构和纳米结构：具体来说，是微尺度和纳米尺度特征的尺寸分布，以及散射强度校准后的体积分数或数量浓度及其表面积[1]。SRM 3600的一个单元由一个尺寸约为10 mmx 10 mmx1 mm的玻璃碳试样组成。

有效期：

SRM 3600的认证在规定的测量不确定度范围内无限期有效，前提是SRM按照本证书中的说明进行处理和存储（请参阅“存储和使用说明"）。如果SRM损坏、污染或以其他方式修改，则本认证无效。

储存：

SRM 3600应储存在干燥环境条件下提供的塑料薄膜箱内，远离过多的水分或热量（zui高60℃）。SRM 3600玻璃碳材料已被证明在长时间内保持稳定，可用于校准目的，在这些储存条件下具有无限的保质期[5]。

使用说明：

要使用SRM 3600使用具有二维（2D）位置敏感探测器（PSD）的传统SAXS仪器为“未知"样品提供SAXS强度校准，必须遵循几个步骤。根据需要使用衰减器保护2D PSD免受入射X射线束的影响（空白、样品和标准的衰减相同），测量样品7和标准7sp在Q=0时相对于入射光束（空白）测量强度的透射率，其中Q=（4π/2）sin0，λ是X射线波长，a是散射角的一半[1]。还根据这些透射率测量值确定入射光束在2D PSD上的位置。然后，在适当的束流挡板保护2D PSD免受入射X射线束的影响的情况下，在相同的条件下对“未知"样品、空白（没有样品）、电子背景（X射线束关闭）和SRM 3600标准试样进行SAXS测量。将每个2D PSD像素的所有测量强度归一化为入射光束强度，然后减去每个像素的电子背景。对于样品和标准品，分别减去每个PSD像素的7s或ZsTp因子衰减的空白散射。然后，相对于探测器上的入射光束位置（（=0）的位置）对2D PSD数据进行循环平均，并除以相应的透射率7s或7sp，以及样品或标准厚度s或tsTD。请注意，对于SRM 3600，应使用tsTD=1.055 mm。

SRM 3600 X射线散射校准标准（美国NIST）  原厂订货，货期短，质量保证，售后完善。

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